Guangmai Tekniikka Co., Oy
+86-755-23499599
Ota meihin yhteyttä
  • Puh: +86-755-23499599

  • Faksi: +86-755-23497717

  • Sähköposti: info@gmleds.com

  • Lisää: Guangmai Tekniikka Puisto, No.96, Guangtian Rd, Yanluo, Baoan Dist, Shenzhen, Kiina

TSMC: n 28 nm: n prosessin perusteella OmniVision julkaisi maailman pienimmän 0,56 μm pikselitekniikan

Mar 22, 2022

Äskettäin kotimainen CMOS-valmistaja OmniVision ilmoitti virallisesti, että se on toteuttanut maailman pienimmän 0,56 μm pikselitekniikan.


Howe sanoi, että T & K-tiimi on varmistanut, että vaikka yhden pikselin koko on jo pienempi kuin punaisen valon aallonpituus, pikselin koon pienentämistä ei rajoita tapahtumavalon aallonpituus.


Howen julkaisemien tietojen mukaan sen 0,56 μm pikselin suunnittelu toteutetaan käyttämällä TSMC: n CMOS-kuvakennolle omistettua 28 nm: n prosessia, kun taas logiikkakerros käyttää 22 nm: n prosessisolmua.


Pikselit käyttävät syviä fotodiodeja ja OmniVision PureCelPlus -tekniikkaa, joiden avulla ne voivat saavuttaa QPD- ja QE-suorituskyvyn, joka on verrattavissa omiin 0,61 μm: n pikseleihin.

1645409190_75749

Lisäksi OmniVision ilmoitti myös, että sen ensimmäinen 200MP-kuvakenno, jossa on 0,56 μm pikseliä, julkaistaan vuoden 2022 toisella neljänneksellä, ja näytteet on tarkoitus käynnistää kolmannella neljänneksellä.


Tunnettu bloggaaja @Digital Chat Station paljasti: "On vielä paljon antureita, joissa on 200 miljoonaa pikseliä. 1/1,22 tuuman 0,64 μm Samsung HP1:n lisäksi OmniVisionilla on myös kaksi solmuversiota, joiden koko on 0,61 μm ja 0,56 μm, 1/1,28"1/ 1,4"± ylisuuri pohja, takaosa on sijoitettu alemmalle. Keski-huippuluokan malleja, joissa on osittainen kuvan paikannus, voidaan harkita, se kuulostaa hyvältä kikkailulta."


Tämä tarkoittaa, että keskitason mallin odotetaan käyttävän OmniVision-anturia saavuttaakseen 200 miljoonan pikselin pääkameran, joka voi parantaa tarkkuutta huomattavasti, ja mikä tärkeintä, all-in-one-algoritmin avulla saavuttaa suurempi yhden pikselin alue sivulla, kannattaa odottaa heikon valon kuvauskyvyn ja kuvatehosteen parantamista.